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簡(jiǎn)要描述：分光測色物體色分析反射率儀全光譜透射比測量?jì)x的優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)?超小型，便攜式。?校準要求低，維護成本低。?定制靈活性?高分辨率可編程設計微控制器?抗震、防震。?方便的數據存儲。?清晰易懂的數據輸出格式。?穩定的測量數據。?測量的光譜參數?特定波長(cháng)?可見(jiàn)光平均透過(guò)率?透射率顏色?CIE?CCT?CRI
產(chǎn)品型號：HPC650- 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間：2024-05-27
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：1585
詳情介紹
分光測色物體色分析反射率儀
OHSP-650色差儀/光譜透過(guò)率測試儀
光譜透過(guò)率測量
全光譜透射比測量?jì)x的應用
全光譜透射率測量?jì)x（TSM）可以測量非常廣泛的產(chǎn)品，如：玻璃鏡片、汽車(chē)絕緣紙、建筑絕緣紙、玻璃、燈罩、濾波器、晶片、LED擴散器等。
全光譜透射比測量?jì)x的優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)
•超小型，便攜式。
•校準要求低，維護成本低。
•定制靈活性
•高分辨率可編程設計微控制器
•抗震、防震。
•方便的數據存儲。
•清晰易懂的數據輸出格式。
•穩定的測量數據。
•測量的光譜參數
•特定波長(cháng)
•可見(jiàn)光平均透過(guò)率
•透射率顏色
•CIE
•CCT
•CRI
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